Tag: SEM

Sensoristica per il controllo di prodotto e processo conciario: il potenziale della Spettroscopia NIR (Near Infrared Spectroscopy)
Sensoristica per il controllo di prodotto e processo conciario: il potenziale della Spettroscopia NIR (Near Infrared Spectroscopy)

Considerando le numerose e sostanziali trasformazioni che la pelle subisce durante il processo produttivo conciario, unitamente alla complessità connessa all’anisotropia della matrice di origine naturale e al crescente utilizzo di un’ampia gamma di nuovi sistemi di concia alternativi a quelli tradizionali, risulta evidente che il controllo di prodotto e processo conciario rappresenta un tema cruciale e sfidante.

Impiego della Microscopia SEM per la caratterizzazione del pelo
Impiego della Microscopia SEM per la caratterizzazione del pelo

Sia nell’ambito di attività di ricerca che di consulenza della SSIP, la microscopia SEM (Scanning Electron Microscopy), si è rivelata una delle tecniche più versatili, attraverso la quale è stato possibile identificare numerose caratteristiche prestazionali e merceologiche di intermedi di lavorazione e prodotti finiti in pelle e pelliccia.

Si comunica che li uffici di tutte le sedi della Stazione Sperimentale per l’Industria delle Pelli e delle Materie Concianti rimarranno chiusi nella giornata del 26 aprile 2024.

In caso di esigenza, è possibile rivolgersi ai seguenti contatti:

dott. Gianluigi Calvanese

mail g.calvanese@ssip.it

mobile. +393490899336

 

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